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經(jīng)驗(yàn)技巧：如何減小示波器垂直量測(cè)量偏差
示波器用戶在進(jìn)行幅值/峰值等垂直量測(cè)量時(shí)，偶然遇到測(cè)量結(jié)果與預(yù)期稍有偏差，測(cè)量不夠準(zhǔn)確的問(wèn)題，使用戶對(duì)示波器的測(cè)量精度產(chǎn)生了質(zhì)疑，在這里說(shuō)說(shuō)示波器幅值/峰值等垂直量測(cè)量為什么出現(xiàn)測(cè)量偏差，針對(duì)這種現(xiàn)象將如何改進(jìn)從而減少測(cè)量誤差。
2016-10-19
示波器 測(cè)量
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使用示波器的幾種超實(shí)用技巧
工程師對(duì)于如何使用示波器是必學(xué)課程，對(duì)于菜鳥級(jí)別的工程師要如何快速的掌握呢？本文特別為這部分的工程師分享幾種使用示波器的超實(shí)用技巧，供大家學(xué)習(xí)。
2016-10-18
示波器 測(cè)量
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為何要為電路板設(shè)計(jì)設(shè)置測(cè)試點(diǎn)？
對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)（test point）是在自然不過(guò)的事了，可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō)，測(cè)試點(diǎn)是什么？本文就為大家講解測(cè)試點(diǎn)是什么？為什么要為電路板設(shè)計(jì)設(shè)置測(cè)試點(diǎn)？
2016-10-18
電路板設(shè) 測(cè)試點(diǎn)
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基于Matlab的DDS線性調(diào)頻信號(hào)的仿真應(yīng)用
直接數(shù)字頻率合成（ DDS）是近年來(lái)得到迅速發(fā)展的一種新的頻率合成方法，具有頻率切換速度快，很容易提高頻率分辨率、對(duì)硬件要求低等優(yōu)點(diǎn)。本文所講的線性調(diào)頻信號(hào)的產(chǎn)生原理和方法有很好的可擴(kuò)展性，修改頻率累加器的內(nèi)容即可以實(shí)現(xiàn)其他的各種調(diào)頻信號(hào)。
2016-10-11
線性調(diào)頻信號(hào) 仿真應(yīng)用
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SiP封裝如何成為超越摩爾定律的重要途徑？
眾所周知的摩爾定律發(fā)展到現(xiàn)階段，何去何從？行業(yè)內(nèi)有兩條路徑：一是繼續(xù)按照摩爾定律往下發(fā)展，走這條路徑的產(chǎn)品有CPU、內(nèi)存、邏輯器件等，這些產(chǎn)品占整個(gè)市場(chǎng)的 50%。另外就是超越摩爾定律的More than Moore 路線。
2016-10-11
制造工藝/封裝 EDA/IP/IC設(shè)計(jì) 產(chǎn)業(yè)前沿
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電子元器件失效分析必須遵循的步驟
隨著人們對(duì)電子產(chǎn)品質(zhì)量可靠性的要求不斷增加，電子元器件的可靠性不斷引起人們的關(guān)注，如何提高可靠性成為電子元器件制造的熱點(diǎn)問(wèn)題。本文將對(duì)其中很重要的部分電子元器件的失效分析進(jìn)行詳細(xì)的闡述，內(nèi)容包括電子元器件失效分析的目的和意義、失效分析的目的和意義、失效分析的基本內(nèi)容、失效分析...
2016-10-11
電子元器件 失效分析 步驟
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研發(fā)基于51單片機(jī)的壓力測(cè)量控制系統(tǒng)
目前我國(guó)發(fā)展煤炭生產(chǎn)機(jī)械化發(fā)展迅速。綜采設(shè)備的應(yīng)用，是提高效率、改善安全狀況的措施。本文以監(jiān)測(cè)綜采液壓支架的壓力為研究?jī)?nèi)容，開發(fā)了一套基于單片機(jī)的壓力測(cè)量控制系統(tǒng)。
2016-10-10
壓力測(cè)量 51單片機(jī)
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以555定時(shí)器為核心，設(shè)計(jì)高精度電容測(cè)試儀
隨著電子工業(yè)的發(fā)展，電子元器件急劇增加，電子元器件的適用范圍也逐漸廣泛起來(lái)，在應(yīng)用中我們常常要測(cè)定電容的大小。因此，一種簡(jiǎn)單、實(shí)用的電容測(cè)試工具在實(shí)際中具有一定的實(shí)用價(jià)值。
2016-10-10
電容測(cè)試儀 555定時(shí)器
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微波開關(guān)矩陣的幅度和相位匹配特性及測(cè)量
微波開關(guān)矩陣常用于儀器的擴(kuò)展應(yīng)用，比如用一臺(tái)儀器測(cè)量N個(gè)DUT或者具有N個(gè)端口的DUT。如果開關(guān)矩陣各個(gè)通路的幅度和相位平衡都做得很好，足夠滿足DUT的測(cè)試要求，就可以省略校準(zhǔn)和修正的麻煩，這樣可以大大提高測(cè)試效率。
2016-10-10
測(cè)量 開關(guān)
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