其它電流傳感器在三相電表應(yīng)用中使用較少，包括羅氏線圈等di/dt傳感器或霍爾效應(yīng)傳感器。雖然這些傳感器在某些應(yīng)用中具有優(yōu)勢，但也存在特殊的困難。例如，羅氏線圈具有出色的線性度，可以檢測非常高的電流，但難以制造，而且難以實現(xiàn)良好的抗擾度，不適合精確的低電流測量。在防竊電方面，羅氏線圈也容易受交流磁場干擾?；魻栃?yīng)傳感器要求對溫度失調(diào)進行主動補償，而且本身很容易受磁場影響。

 

分流電阻與三相電能計量

 

近年來，在成本、磁場抗擾度和尺寸等因素的推動下，分流電阻在單相電表中的使用迅速增加。許多情況下，單相電表以線電壓為基準，因而無需額外的隔離。在三相電表中，必須在各分流電阻與電表內(nèi)核之間提供一個隔離柵，這是嚴重的挑戰(zhàn)。熱量也是一個問題，迫使分流電阻一般只能用于最大電流不超過120 A的電表。我們先考慮一個三相系統(tǒng)的A相及其負載。假設(shè)利用分流電阻來檢測相電流(圖1)。

 

我們先考慮一個三相系統(tǒng)的A相及其負載。假設(shè)利用分流電阻來檢測相電流(圖1)。

 

圖1. 利用分流電阻檢測相電流時的A相電流和電壓檢測

 

這恰好是一個單相電表配置：分流電阻位于電力線上，一個分壓器檢測相至零線電壓。分流電阻和分壓器上的電壓由一個模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)檢測。地為分流電阻與分壓器共用的極點。單相電表大部分用于住宅，其最大電流一般低于120 A。這一限制加上低成本要求，使得分流電阻成為單相電能計量中使用最廣泛的電流傳感器。

 

所有三相都復制這一方案，各ADC有其自己的地(圖2)。

 

圖2. 利用分流電阻檢測相電流時的三相電流和電壓檢測

 

管理所有活動的微控制器(MCU)與零線處于相同的電位，為了在ADC與MCU之間進行通信，必須隔離數(shù)據(jù)通道。這樣，每個ADC都有其自己的隔離電源(圖3)。

 

圖3. 具有分流電阻、獨立電源和隔離通信的三相電表

 

這種電表架構(gòu)已在使用：雙通道ADC利用光耦合器或芯片級變壓器，跨越隔離柵將信息串行傳輸?shù)組CU。隔離電源利用獨立器件或采用芯片級變壓器的隔離DC-DC轉(zhuǎn)換器來構(gòu)建。

 

理想情況下，所有相電流和電壓都應(yīng)同步采樣，以便利用瞬時值進行全面的三相分析。但是，各相的ADC讀數(shù)完全獨立，因為不存在ADC同步。這是這種架構(gòu)的第一個局限。使用電流互感器或羅氏線圈的電表則不存在這種問題，因為它們可以使用一個計量模擬前端(AFE)來同時讀取所有相電流和電壓。

 

這種架構(gòu)的另一個問題是高器件數(shù)：一個MCU、三個ADC、三個多通道數(shù)據(jù)隔離器以及四個電源。使用CT的電表不存在這個問題，因為電路板通常具有一個MCU、一個計量AFE和一個電源。

 

那么，如何構(gòu)建一款具有分流電阻的優(yōu)勢，器件數(shù)對于這種架構(gòu)而言最少(即一個MCU、一個電源和三個ADC)，并且能對所有相電流和電壓同步采樣的電表呢？

 

隔離式ADC架構(gòu)

 

答案是構(gòu)建一種集成至少兩個ADC、一個隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器和數(shù)據(jù)隔離器，并能使屬于不同芯片的ADC同步采樣數(shù)據(jù)的芯片(圖4)。MCU的電源VDD也為此芯片供電。采用芯片級變壓器技術(shù)的隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器為ADC的第一級提供隔離電源。一個ADC檢測分流電阻上的電壓，另一個ADC利用分壓器檢測相至零線電壓。由分流電阻極點之一所確定的地就是芯片隔離側(cè)的地。ADC為sigma-delta型，僅第一級放在芯片的隔離側(cè)。第一級輸出的位流經(jīng)過芯片級變壓器，后者是隔離數(shù)據(jù)通信通道的一部分。芯片的非隔離側(cè)收到位流，濾波后將其變?yōu)?4位字，然后通過SPI串行端口提供給外部。

 

圖4. 新型ADC架構(gòu)包括雙通道ADC、數(shù)據(jù)隔離和一個隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器

 

芯片級變壓器技術(shù)對這種新型ADC架構(gòu)的貢獻最大。與光耦合器相比，ADI公司獲得專利的iCoupler®數(shù)字隔離器更可靠、尺寸更小、功耗更低、通信速度更快、時序精度更佳。但這還不夠。隔離式sigma-delta調(diào)制器上 市已久，采用光耦合器或芯片級變壓器。芯片級變壓器技術(shù)的最重要貢獻是伴隨isoPower®隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器，它可以與ADC、數(shù)字模塊、隔離數(shù)據(jù)通道一同集成到一個表貼薄型封裝中。

 

芯片級變壓器的核心是空氣，因此iCoupler數(shù)字隔離器和isoPower隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器根本不受永磁體的影響，使得電表這一側(cè)完全不受直流磁場干擾。這種變壓器對交流磁場同樣具有高抗擾度。線圈面積非常小，要影響isoPower線圈運行，必須產(chǎn)生一個10 kHz、2.8 T的磁場。換言之，為了影響芯片級變壓器的行為，必須讓69 kA的10 kHz電流通過一根導線，并讓該導線與芯片相隔5 mm。

 

信息利用極高頻PWM脈沖傳輸?shù)礁綦x柵另一側(cè)。由此產(chǎn)生的高頻電流會在電路板中傳播，引起邊沿和偶極子輻射。隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器的負載僅由sigma-delta ADC的第一級構(gòu)成，其幅度是已知的。因此，線圈是針對已知負載進行設(shè)計，從而可以降低一般與DC-DC轉(zhuǎn)換器相關(guān)的輻射，并且無需四層電路板。使用這種架構(gòu)的IC時，電表制造商可以使用兩層電路板，并通過所需的CISPR 22 Class B標準。

 

為使與MCU的接口盡可能簡單，芯片的數(shù)字模塊對來自第一級的位流進行濾波，并通過簡單的從機SPI串行端口提供24位ADC輸出。電表每一相都有一個隔離式ADC，因此獲得一致ADC輸出的挑戰(zhàn)仍未解決。如果采用同一時鐘工作，則所有相上的ADC第一級可以在同一時刻采樣。如果圖4中的CLKIN信號產(chǎn)生自MCU，則這很容易實現(xiàn)。另一個方案是使用一個晶振為一個芯片產(chǎn)生時鐘，然后利用緩沖CLKOUT信號為所有其它隔離式ADC提供時鐘?？刂扑懈綦x式ADC以在同一時刻產(chǎn)生ADC輸出?，F(xiàn)在，電表就能利用分流電阻檢測電流，執(zhí)行精確、全面的三相分析。

 

圖5顯示一款采用三個隔離式ADC的三相電表。該電表僅有一個電源為MCU和隔離式ADC供電。MCU利用SPI接口從各IC讀取ADC輸出。

 

圖5. 采用新型隔離式ADC的三相電表

 

上面的說明假設(shè)利用外部MCU執(zhí)行計量計算。對于希望解決方案包括計量計算的電表制造商， 可以將隔離式ADC耦合到一個IC以執(zhí)行所有計量計算，如圖6所示。

 

圖6. 采用新型隔離式ADC和計量IC的三相電表

 

基于此架構(gòu)的新產(chǎn)品

 

此架構(gòu)已被ADI公司的一系列新產(chǎn)品采用：ADE7913、ADE7912、ADE7933和ADE7932。圖7顯示了ADE7913的框圖。它與圖4非常相似，但有一個額外ADC通道用于檢測與溫度傳感器復用的輔助電壓。該輔助電壓可以是斷路器上的電壓，溫度傳感器可用于校正分流電阻的溫度變化。ADE7912是一個變體，無輔助電壓測量功能，但有溫度傳感器。

 

圖7. 基于此架構(gòu)的新型ADE7913隔離式ADC

 

ADE7933和ADE7932將SPI接口替換為位流接口，其余特性分別與ADE7913和ADE7912相同。它們就是圖6所示的隔離式ADC。圖中的計量IC已通過ADE7978實現(xiàn)。

 

結(jié)束語

 

本文說明了一種新型隔離式ADC架構(gòu)。它包含一個isoPower隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器，利用MCU電源為隔離柵另一側(cè)的多通道sigma delta ADC第一級供電。ADC輸出的位流經(jīng)過iCoupler數(shù)據(jù)隔離器，由數(shù)字模塊接收。此模塊對其進行濾波，產(chǎn)生24位ADC輸出，可利用簡單的SPI接口讀取。一個ADC可以測量經(jīng)過一個分流電阻的電流，第二個ADC可以利用分壓器測量相至零線電壓，第三個ADC可以測量輔助電壓或溫度傳感器。它支持三相電表使用分流電阻，確保完全不受直流和交流磁場干擾，執(zhí)行電流檢測時不會產(chǎn)生任何相移，同時可降低系統(tǒng)總成本。小尺寸解決方案確保電路板非常小，只需安裝非常少的器件。集成式isoPower芯片級變壓器針對已知ADC負載而設(shè)計，輻射降至最低，并通過測試，利用兩層電路板即可達到CISPR 22 Class B標準。

 

當然，使用分流電阻的電流檢測并不局限于電能計量應(yīng)用，電能質(zhì)量監(jiān)控、太陽能逆變器、過程監(jiān)控和保護設(shè)備均可受益于這種新型ADC架構(gòu)。

 

 

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