【導(dǎo)讀】很多時侯,電源看起來是正常工作的,但它會導(dǎo)致其它電路單元不能正常工作。眼圖和抖動問題、時序問題、串?dāng)_問題、EMI問題、熱問題等,都和電源問題有一定程度相關(guān)。本文將總結(jié)PWM開關(guān)電源的測試經(jīng)驗(yàn),并簡述容易引起系統(tǒng)失效的一些因素。
電子器件的電源測量通常情況是指開關(guān)電源的測量(當(dāng)然還有線性電源)。因此,在閱讀本文之前,已經(jīng)假定您對于開關(guān)電源有一定的了解。
1 、開關(guān)電源簡述
開關(guān)電源(Switching Mode Power Supply,常常簡化為SMPS),是一種高頻電能轉(zhuǎn)換裝置。其功能是將電壓透過不同形式的架構(gòu)轉(zhuǎn)換為用戶端所需求的電壓或電流。
開關(guān)電源的拓?fù)渲搁_關(guān)電源電路的構(gòu)成形式。一般是根據(jù)輸出地線與輸入地線有無電氣隔離,分為隔離及非隔離變換器。非隔離即輸入端與輸出端相通,沒有隔離措施,常見的DC/DC變換器大多是這種類型。所謂隔離是指輸入端與輸出端在電路上不是直接聯(lián)通的,使用隔離變壓器通過電磁變換方式進(jìn)行能量傳遞,輸入端和輸出端之間是完全電氣隔離的。
對于開關(guān)變換器來說,只有三種基本拓?fù)湫问?,即?/div>
Buck(降壓)
Boost(升壓)
Buck-Boost(升降壓)
三種基本拓?fù)湫问?,是電感的連接方式?jīng)Q定。若電感放置于輸出端,則為Buck拓?fù)?;電感放置于輸入端,則是Boost拓?fù)洹.?dāng)電感連接到地時,就是Buck-Boost拓?fù)洹?/div>
2 、容易引發(fā)系統(tǒng)失效的關(guān)鍵參數(shù)測試
以下的測試項(xiàng)目除了是指在靜態(tài)負(fù)載的情況下測試的結(jié)果,只有噪聲(noise)測試需要用到動態(tài)負(fù)載。
2.1 Phase點(diǎn)的jitter
對于典型的PWM開關(guān)電源,如果phase點(diǎn)jitter太大,通常系統(tǒng)會不穩(wěn)定(和后面提到的相位裕量相關(guān)),對于200~500K的PWM開關(guān)電源,典型的jitter值應(yīng)該在1ns以下。
2.2 Phase點(diǎn)的塌陷
有時候工程師測量到下面的波形,這是典型的電感飽和的現(xiàn)象。對于經(jīng)驗(yàn)不夠豐富的工程師,往往會忽略掉。電感飽和會讓電感值急劇下降,類似于短路了,這樣會造成電流的急劇增加,MOS管往往會因?yàn)闇囟鹊募眲≡黾佣鵁龤?。這時需要更換飽和電流更大的電感。
2.3 Shoot through測試
測試的目的是看上MOS管導(dǎo)通時,有沒有同時把下管打開,從而導(dǎo)致電源直接導(dǎo)通到地而引起短路。如圖三所示藍(lán)色曲線(Vgs_Lmos)就是下管在上管導(dǎo)通的同時,被帶了起來,如果藍(lán)色曲線的被帶起來的尖峰超過了MOS管的Vth要求,同時持續(xù)時間(Duration)也超過了datasheet要求,從而就會有同時導(dǎo)通的風(fēng)險。當(dāng)然,這是大家最常見到的情況。
下面這種情況有非常多的人會忽視,甚至是一些比較有經(jīng)驗(yàn)的電源測試工程師。下面組圖四是下管打開,上管關(guān)閉時候的波形(圖4-1是示意圖,圖4-2示實(shí)際測試圖)。雖然沒有被同時帶起的情況,但是請注意上下管有交叉的現(xiàn)象,而且交叉點(diǎn)的電平遠(yuǎn)高于MOS管規(guī)定的Vth值,這是個嚴(yán)重的shoot through現(xiàn)象。最直接的后果就是MOS管燒毀!
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2.4 相位裕量和帶寬 (phase margin and bandwidth)
相位裕量和帶寬是很多公司都沒有測試的項(xiàng)目(尤其是規(guī)模較小的公司受限于儀器),但是這卻是個非常重要的測試項(xiàng)目。電源系統(tǒng)是否穩(wěn)定,是否能長時間(3年或以上)有效工作,相位裕量和帶寬可以在很大程度上說起了決定性的作用。很多公司完全依賴于電源芯片廠家給的參考設(shè)計(jì)方案里的推薦值,但是跟你的設(shè)計(jì)往往有不小的差異,這樣會有很大的潛在風(fēng)險。
如果系統(tǒng)是一個不穩(wěn)定的系統(tǒng),反映在一些電源測試項(xiàng)目里面,會看到以下幾個主要問題。
電源的Noise測試通過,但是電源依然不穩(wěn)定。表現(xiàn)為功能測試fail。常常有工程師在debug時說我的電源noise已經(jīng)很小了,加了很多電容了,為啥還是跑不動呢?其實(shí)是他的閉環(huán)系統(tǒng)本來就不穩(wěn)定。
Phase點(diǎn)jitter過大。這是比較典型的不穩(wěn)定現(xiàn)象。
瞬態(tài)響應(yīng)(Transient response)太大。最笨的辦法就是加很多電容,去滿足瞬態(tài)響應(yīng)的要求。對于低成本產(chǎn)品,這可是要錢的啊。
如果你沒有用正確的方法測試出系統(tǒng)的環(huán)路增益的波特圖,那么你如何下手去調(diào)試這些項(xiàng)目讓他通過測試呢?只有來來回回不停作實(shí)驗(yàn)。然后來來回回跑功能測試。Oh, my god, 浩大的工作量。而且,對于一些低成本的產(chǎn)品,往往用到了鋁電解電容,MLCC電容等低成本方案(電感,電阻值基本沒有變化)。這些電容的容值會隨著時間變化而減少。如MLCC,系統(tǒng)運(yùn)行在正常溫度兩年~三年,容值會變到原來的一半。而這一半電容的變化,會對系統(tǒng)的穩(wěn)定造成很大的影響,這也是為什么很多低價的產(chǎn)品質(zhì)量不可靠的一個重要原因。那是不是說價格越高,用越多的電容就越好呢,當(dāng)然不是。這就是為啥要測試phase margin的原因。你需要調(diào)試一組合理的值,能夠同時覆蓋全電容以及半電容的要求。這樣同樣能做到低價格高品質(zhì)。
根據(jù)奈奎斯特定理對系統(tǒng)穩(wěn)定性要求,規(guī)范要求一個閉環(huán)系統(tǒng)的相位裕量最少為60度,45~60度可以考慮為最低限額要求。對于帶寬,200~500K的開關(guān)電源的要求在10%~30%的開關(guān)頻率。從開關(guān)電源的穩(wěn)定性看帶寬越低,電源越容易穩(wěn)定。從開關(guān)電源的動態(tài)指標(biāo)看,帶寬越高電源的動態(tài)性能越好。
下圖五為典型的波特圖:
另外一點(diǎn)非常重要的是,除了PWM開關(guān)電源,有很多線性電源(LDO),其補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)在芯片外部的,也要做類似的環(huán)路增益的波特圖測試,從而確保其穩(wěn)定性。LDO的測試,是絕大多數(shù)廠家容易忽略掉的。比如如下圖六所示這種電路,很多人會直接測量noise完事。
我們有可能會看到的相位裕量不能達(dá)到要求。如下圖七,只有30度左右。這個時候,只有調(diào)試不同的參數(shù),才能得到比較好的結(jié)果。從而滿足系統(tǒng)穩(wěn)定性的要求。
2.5 電源紋波(ripple)和噪聲(noise)
電源紋波和噪聲,看起來是電源測試?yán)锩孀詈唵蔚捻?xiàng)目。但是也有可能對你的測試結(jié)果和功能有比較大的影響。
首先是紋波,我們測試的時候,只是看是不是符合規(guī)范要求,比如30mV等等。有些時候,紋波和系統(tǒng)的PLL是有關(guān)系的。如果你的PLL jitter不過 ,可以考慮進(jìn)一步減小ripple。
噪聲,有人會問,為啥我的系統(tǒng)noise和他的系統(tǒng)noise基本是一個范圍,但是我的系統(tǒng)會跑fail呢?首先我們要排除前面講的系統(tǒng)穩(wěn)定性原因,然后,親,你有沒有用示波器做過FFT,看看同樣noise在頻域上的區(qū)別呢?
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