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高精度溫度測量
每個電子設(shè)備都必須經(jīng)過不同的測試才能確定其預(yù)期性能。這是該設(shè)備獲準(zhǔn)投放市場之前的必要步驟。需要進(jìn)行的一項(xiàng)重要測試是溫度測量，以確定產(chǎn)品有效工作的溫度范圍。更重要的是，和工作溫度是已知的。
2023-09-04
溫度測量
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MVG在2023全國天線會議中展示SG Evo系統(tǒng)，在拱形環(huán)中采用無限采樣專利技術(shù)
天線測量解決方案領(lǐng)導(dǎo)者M(jìn)icrowave Vision Group（MVG）今日宣布參加2023年8月20日至23日在哈爾濱舉辦的全國天線會議，并參與會議同期進(jìn)行的產(chǎn)品展覽，展出其采用了MVG無限采樣專利技術(shù)的多探頭測試系統(tǒng)——SG Evo。
2023-08-23
MVG 天線測量 SG Evo系統(tǒng)
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如何更高效、更準(zhǔn)確地測試驗(yàn)證帶有Redriver的PCIe鏈路？
Redriver是一種常見的電子器件，用于在高速數(shù)字信號傳輸中增強(qiáng)信號的幅度和質(zhì)量，以擴(kuò)展傳輸距離和提高信號可靠性。Redriver通常用于數(shù)據(jù)中心、通信網(wǎng)絡(luò)、計(jì)算機(jī)和消費(fèi)電子等領(lǐng)域，因其在高速信號傳輸中具有重要作用而備受歡迎。隨著消費(fèi)電子、數(shù)據(jù)中心和通信網(wǎng)絡(luò)等領(lǐng)域的不斷發(fā)展，Redriver市場將...
2023-08-22
Redriver PCIe鏈路 泰克
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有效測量碳化硅信號
碳化硅（SiC）技術(shù)已超越傳統(tǒng)的硅（Si）絕緣柵雙極晶體管（IGBT）應(yīng)用，因?yàn)樗哂写蠊β氏到y(tǒng)的主要熱和電氣優(yōu)勢。這些優(yōu)勢包括更高的開關(guān)頻率、更高的功率密度、更好的工作溫度、更高的電流/電壓能力以及整體更好的可靠性和效率。SiC器件正在迅速取代基于硅的組件和模塊，作為系統(tǒng)升級和系統(tǒng)設(shè)計(jì)的...
2023-08-22
碳化硅 有效測量 信號
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使用新一代高度可調(diào)的低介電薄膜來解決串?dāng)_、隔離等制造挑戰(zhàn)
想象一下，在一個擠滿人的大房間里，每個人都有一條您需要的重要信息。他們都很樂意告訴您他們的信息，但問題是，他們都在同一時間說話。房間里的人越密集，就越難將想要關(guān)注的信息與周圍的雜音區(qū)分開。
2023-08-22
低介電薄膜 串?dāng)_ 隔離
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喜報(bào) | 芯耀輝獲評國家級專精特新“小巨人”
近期，國家工業(yè)和信息化部第五批專精特新“小巨人”企業(yè)名單正式公布，芯耀輝憑借自身在中國半導(dǎo)體IP領(lǐng)域過硬的技術(shù)實(shí)力、卓越的創(chuàng)新能力、靚麗的量產(chǎn)成績、杰出的產(chǎn)業(yè)貢獻(xiàn)成功通過評定。
2023-08-19
芯耀輝 半導(dǎo)體IP
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泰瑞達(dá)張震宇：解讀異構(gòu)集成和Chiplet時代下，測試行業(yè)的機(jī)遇與挑戰(zhàn)
2023年7月3日，中國 北京訊 —— 全球先進(jìn)的自動測試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)（NASDAQ:TER）宣布，受邀出席了SEMICON China 2023同期舉辦的“先進(jìn)封裝論壇 - 異構(gòu)集成”活動。在活動中，泰瑞達(dá)Complex SOC事業(yè)部亞太區(qū)總經(jīng)理張震宇發(fā)表題為《異構(gòu)集成和Chiplet時代下，芯片測試行業(yè)的機(jī)遇與挑戰(zhàn)》的精彩演講，...
2023-08-17
泰瑞達(dá) Chiplet 測試行業(yè)
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芯思維再接再厲，獲TüV萊茵國內(nèi)第二張EDA工具功能安全產(chǎn)品認(rèn)證
中國北京，2023年8月7日——上海芯思維信息科技有限公司（簡稱“芯思維”）宣布于近期獲得德國萊茵TüV大中華區(qū)（簡稱“TüV萊茵”）針對其EDA邏輯仿真系列產(chǎn)品XSIM，頒發(fā)的國內(nèi)第二張EDA工具功能安全I(xiàn)SO26262 TCL3和IEC61508 T2產(chǎn)品認(rèn)證證書。ISO26262是全球公認(rèn)的汽車功能安全標(biāo)準(zhǔn)，覆蓋汽車電子半導(dǎo)體的...
2023-08-11
芯思維 TüV EDA
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使用TMT4 PCIe性能綜合測試儀創(chuàng)建PCIe參考模板
隨著用于PCIe鏈路健康狀況測試的TMT4PCIe性能綜合測試儀的推出，出現(xiàn)了一個問題，即確定被測設(shè)備（DUT）通過/不通過的“最佳模板”是什么。是否應(yīng)該使用標(biāo)準(zhǔn)的PCIe兼容模板？是否有一個一致的模板可以用于所有類型的PCIe被測設(shè)備？如果沒有，那么工程師應(yīng)該如何從他們的測試結(jié)果來評估是否被測設(shè)備是...
2023-08-07
PCIe 綜合測試儀
- 克服碳化硅制造挑戰(zhàn)，助力未來電力電子應(yīng)用
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