你的位置:首頁 > 測試測量 > 正文

泰克SuperSpeed測試解決方案幫助NEC電子獲得世界首項(xiàng)USB 3.0認(rèn)證

發(fā)布時(shí)間:2010-01-27 來源:電子元件技術(shù)網(wǎng)

產(chǎn)品特性產(chǎn)品圖片
  • 泰克AWG7122B可提供無可比擬的信號生成靈活度
應(yīng)用范圍:
  • 幫助NEC電子獲得世界首項(xiàng)USB 3.0認(rèn)證
  • 測試測量

全球示波器市場的領(lǐng)導(dǎo)廠商—泰克公司日前宣布,其SuperSpeed USB解決方案為NEC電子符合USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)的主機(jī)提供信號質(zhì)量監(jiān)測,該主機(jī)是世界首款獲得USB設(shè)計(jì)者論壇USB 3.0認(rèn)證的產(chǎn)品。

作為設(shè)計(jì)和生產(chǎn)集成電路的全球領(lǐng)導(dǎo)企業(yè),NEC電子選擇與泰克合作,驗(yàn)證其新的硅元件以滿足新興的SuperSpeed USB標(biāo)準(zhǔn)(USB3.0)要求。USB技術(shù)已經(jīng)迅速被公認(rèn)為連接電腦及外設(shè)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),與其它先進(jìn)的高速接口如PCI Express 2.0和SATA Gen 3等相比,USB 3.0的性能可以支持高達(dá)5Gbps的數(shù)據(jù)速率,如此高的性能為測試測量帶來了更復(fù)雜的挑戰(zhàn)。為解決這些挑戰(zhàn),必須使用高性能、高靈活度的測量設(shè)備,以及能夠加快和簡化設(shè)計(jì)、測量和分析過程的工具。借助泰克USB 3.0測試解決方案,NEC電子這類企業(yè)的工程師們可以對USB設(shè)備進(jìn)行檢定、調(diào)試和一致性測試,自動(dòng)實(shí)現(xiàn)余量和一致性測試。對關(guān)鍵的USB 3.0接收機(jī)余量測試,泰克AWG7122B任意波形發(fā)生器則可提供無可比擬的信號生成靈活度,可以幫助客戶更快地把符合USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品推向市場。

泰克公司技術(shù)解決方案部市場經(jīng)理Dave Slack表示:“泰克一直與NEC電子保持密切合作,共同驗(yàn)證、測試和調(diào)試SuperSpeed USB。今天,我們非常榮幸能為NEC電子的產(chǎn)品開發(fā)做出貢獻(xiàn),從而使其在業(yè)內(nèi)率先獲得USB 3.0認(rèn)證。”

泰克USB 3.0解決方案
泰克SuperSpeed USB一致性測試解決方案基于一整套可提供優(yōu)異的測量性能,滿足高速串行協(xié)議需求的儀器,包括實(shí)時(shí)和采樣示波器、任意波形發(fā)生器等。例如,DSA71254B實(shí)時(shí)示波器提供了高帶寬和低噪聲環(huán)境,可準(zhǔn)確地捕獲和分析快速串行信號時(shí)鐘速率。對一致性測試中的眼圖分析和余量測試,匹配的示波器采集系統(tǒng)變得至關(guān)重要。與其類似的是,AWG7122B任意波形發(fā)生器提供了復(fù)雜的波形,可以模擬傳輸路徑的劣化效應(yīng),支持接收機(jī)測試。這些硬件工具與專業(yè)應(yīng)用軟件配合使用,如DPOJET抖動(dòng)和眼圖分析工具、SerialXpress高級抖動(dòng)生成工具和TekExpress™ USB 3.0自動(dòng)一致性測試軟件等,為工程師檢驗(yàn)和調(diào)試設(shè)計(jì)提供了所需的工具。更多泰克即時(shí)信息,請登錄 Twitter, 參看– @tektronix

關(guān)于泰克公司
60多年以來,工程師們不斷向泰克尋求測試,測量和監(jiān)測解決方案,以應(yīng)對設(shè)計(jì)挑戰(zhàn),提高生產(chǎn)效率,大幅縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。泰克公司是一家領(lǐng)先的測試儀器提供商,為專注于電子設(shè)計(jì)、制造及先進(jìn)技術(shù)開發(fā)的工程師提供支持。泰克公司的總部設(shè)在美國俄勒岡州畢佛頓,為全球范圍內(nèi)的客戶提供備受贊譽(yù)的服務(wù)和支持。獲得前沿技術(shù),請登陸www.tektronix.com.cn。
要采購工具么,點(diǎn)這里了解一下價(jià)格!
特別推薦
技術(shù)文章更多>>
技術(shù)白皮書下載更多>>
熱門搜索
?

關(guān)閉

?

關(guān)閉