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電磁兼容測(cè)試中試驗(yàn)桌對(duì)輻射騷擾測(cè)量的影響分析

發(fā)布時(shí)間:2019-05-16 責(zé)任編輯:xueqi

【導(dǎo)讀】通過實(shí)驗(yàn)研究試驗(yàn)桌對(duì)輻射騷擾試驗(yàn)的影響,尋找測(cè)試數(shù)據(jù)差異產(chǎn)生的原因及解決方法。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,輻射騷擾測(cè)試時(shí)應(yīng)使用介電常數(shù)低的測(cè)試桌以減小不確定度。該研究對(duì)于電磁兼容 測(cè)試中的輻射騷擾測(cè)量具有一定的參考價(jià)值和指導(dǎo)意義。
 
引言
     
隨著各國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)的推廣和實(shí)施,人們?cè)絹碓街匾暜a(chǎn)品的電磁兼容性問題,各大電子設(shè)備制造商也越來越注重產(chǎn)品的電磁兼容性測(cè)試,特別是電磁輻射騷擾是否達(dá)到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。在輻射騷擾測(cè)試中,場(chǎng)地對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響非常明顯。在不同的測(cè)試場(chǎng)地,相同的儀器儀表會(huì)得到不同的測(cè)量結(jié)果,所以各個(gè)暗室的測(cè)試數(shù)據(jù)存在著差異。EN55022:2010是歐洲旨在對(duì)適用范圍內(nèi)的信息技術(shù)設(shè)備無線電騷擾電平給出統(tǒng)一要求的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了騷擾限值、測(cè)量方法、運(yùn)行條件和結(jié)果的處理要求。EN 55022:2010 輻射騷擾試驗(yàn)中,臺(tái)式設(shè)備要求放置在非金屬的桌子上,如圖1所示。標(biāo)準(zhǔn)中只提到桌面的大小通常為1.5m×1.0m,而對(duì)試驗(yàn)桌的材質(zhì)沒有明確規(guī)定。由于不同材料制作的試驗(yàn)桌介電常數(shù)不同,導(dǎo)致輻射騷擾測(cè)試結(jié)果不同。本文就試驗(yàn)桌對(duì)輻射騷擾測(cè)量的影響進(jìn)行定量分析。
 
 
1 試驗(yàn)桌對(duì)場(chǎng)地性能的影響
     
EN 55022:2010 規(guī)定,輻射騷擾試驗(yàn)要在開闊試驗(yàn)場(chǎng)地進(jìn)行。開闊試驗(yàn)場(chǎng)地應(yīng)平坦、無架空電力線、附近無反射物,場(chǎng)地足夠大,以便能在規(guī)定距離處放置天線,并使天線、受測(cè)設(shè)備和反射物體之間有足夠的間隔。但是隨著社會(huì)的發(fā)展,要尋找一塊符合要求的理想場(chǎng)地十分困難,所以電波暗室作為開闊試驗(yàn)場(chǎng)的可替換場(chǎng)地被廣泛應(yīng)用。標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定,歸一化場(chǎng)地衰減(簡(jiǎn)稱NSA)是證明電波暗室是否能獲得有效結(jié)果的關(guān)鍵指標(biāo)。電波暗室是為模擬開闊試驗(yàn)場(chǎng)地而建造的,電波暗室的歸一化場(chǎng)地衰減應(yīng)該與開闊場(chǎng)地的差值小于4dB,以證明兩者的相似程度。
 
采用歸一化場(chǎng)地衰減試驗(yàn)方法驗(yàn)證試驗(yàn)桌對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響,如圖2所示。
 
 
在10m暗室無測(cè)試桌的情況下,用信號(hào)源分別通過雙錐天線(頻率30~250MHz)和對(duì)數(shù)天線(頻率250~1000MHz)發(fā)射電磁波。用接收機(jī)和另一組雙錐天線和對(duì)數(shù)天線測(cè)得一組場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)。歸一化場(chǎng)地衰減的計(jì)算公式
AN = VT - VR - AFT - AFR - ΔAFTOT
式中:VT —— 發(fā)射天線輸入電壓,dBμV; VR —— 接收天線輸出電壓,dBμV; AFT —— 發(fā)射天線的天線系數(shù),dB; AFR ——接收天線的天線系數(shù),dB;
ΔAFTOT —— 互阻抗修正系數(shù),dB(僅適用 于用偶極子天線測(cè)量、且測(cè)量距離為 3 m 時(shí)的情況, 除此之外,ΔAFTOT = 0)
 
表1:雙錐天線和對(duì)數(shù)天線測(cè)得的場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)
 
表 1 中,Aideal 為標(biāo)準(zhǔn)的歸一化場(chǎng)地衰減值,偏差為 Aideal 減去 AN,且均小于 4 dB。
然后分別在采用泡沫桌和木桌情況下測(cè)得另兩組場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù),如圖 3 和圖 4 所示。
 
圖3:泡沫桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之一
 
圖4:木桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之一 
 
對(duì)三組場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,如圖 5 所示。 
 
圖5:場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)比較
 
2 試驗(yàn)桌對(duì)輻射騷擾試驗(yàn)測(cè)量結(jié)果的影響分析
 
現(xiàn)將同一信號(hào)源分別放置在泡沫桌(如圖 6 所示)和木桌(如圖 7 所示)上,接收天線在距離信號(hào)源 10 m 處分別測(cè)量輻射騷擾。
 
圖6:泡沫桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之二
 
圖7:木桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之二
 
測(cè)試得到的數(shù)據(jù)如圖 8 所示。
 
 
從圖 8 中可看出,在頻率范圍 700~900 MHz 輻射騷擾試驗(yàn)結(jié)果存在較大差異,其中在 800 MHz 處差異達(dá)到了 5.3 dB,而在 GB/T 6113.402-2006《無線 電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范第 4-2 部分:不確定度、統(tǒng)計(jì)學(xué)和限值建模測(cè)量設(shè)備和設(shè)施的不確定度》中提到,輻射騷擾測(cè)量的不確定度最大允許值為 5.2 dB??梢姴煌馁|(zhì)試驗(yàn)桌造成的輻射騷擾差異超出了標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的不確定度。
     
3 結(jié)語
     
從圖 5 和圖 8 中不難看出,不同材質(zhì)的試驗(yàn)桌產(chǎn)生最大差異的頻率相同,均在 700~900 MHz 之間。
     
由前述歸一化場(chǎng)衰減的計(jì)算公式可以得出:
     
VR = VT - AFT - AFR - ΔAFTOT - AN
 
因泡沫的介電常數(shù)接近空氣,比木頭小,所以暗室使用泡沫桌時(shí)測(cè)得的場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)與無測(cè)試桌相似;而當(dāng)暗室使用木桌時(shí),測(cè)得的場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)與無測(cè)試桌時(shí)的數(shù)據(jù)存在較大差異。因木桌較大的介電常數(shù)使圖 5 中使用木桌的暗室場(chǎng)地衰減 AN 偏大, 在AFT、AFR、ΔAFTOT 不變的情況下接收機(jī)測(cè)得的最大測(cè)量電平值 VR 將減小。
     
所以,當(dāng)電波暗室使用木桌或其他較大介電常數(shù)材質(zhì)制作的試驗(yàn)桌等輔助設(shè)施時(shí),會(huì)使場(chǎng)地衰減AN 增大而導(dǎo)致接收機(jī)測(cè)得的電場(chǎng)強(qiáng)度減小,使測(cè)試結(jié)果造成差異。試驗(yàn)桌等輔助設(shè)備是試驗(yàn)場(chǎng)地有效性中不可分割的一部分,因此建議,在選擇暗室輔助設(shè)施時(shí)選擇介電常數(shù)小的材質(zhì),并進(jìn)行場(chǎng)地衰減的測(cè)量比較,以保障各暗室測(cè)量結(jié)果的一致性。
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